信頼性情報
1.品質保証体系
当社の品質保証体系の概略を図1、図2に示します。図1は製品の品質保証フローで、図2はIPの品質保証フローです。製品の場合には製造を含め、生産、出荷、在庫管理及び販売を一部協力会社に委託しています。但し、主軸となる設計、品質保証活動そのものは弊社が主体となって実施しています。


- 商品企画 (技術調査、市場調査)
顧客や市場の要求する性能、信頼性・品質レベル、生産時期、ビジネス規模等を把握し、これらの要求に関してまず技術面、製造委託先を含めた製造プロセス能力、信頼性・環境面等から商品企画の検証を行います。当社ではこの段階で「DR0:企画審査」を実施します。 - 開発・設計
開発・設計でのレビューは基本設計や各種の詳細設計工程の終了時に行われます。設計アウトプットが、設計仕様や要求事項、設計基準等を達成していることを確認したうえで、次の設計段階に進めるかどうかの判断を行います。当社はこの段階のレビューを「DR1:個別設計審査」と呼んでいます。
設計が完了し、TEGあるいは製品の試作を行うために、一連の設計工程での総括的な検証として'DR2:試作開始DR'が実施されます。ここでのアウトプットがマスクパターンデータであり、このパターンを用いて特性・機能確認用の試作が開始されます。
試作品の評価が完了し、IP化の検証、量産化の確認が完了した時点で'DR3:IPリリースDRまたは新製品量産化DR'が実施されます。 - 量産と品質保証
量産後においても、製造委託先等との協力によって、品質モニタの実施や継続的改善活動の展開を行います。不幸にして、お客さまにて不具合が発生した場合には、図3の問題解決フローに従って、「顧客第一」で対応します。
2.信頼性評価
2.信頼性評価
表1は弊社信頼性評価の一般的な参考例となります。実際はデバイス毎に詳細検討を行い、試験を実施いたします。
表1. 信頼性評価一覧
| 試験項目 | 略語 | 参考基準 | 試験条件 | 判定基準 | 実地の有無 | |
|
IP |
製品 | |||||
| 前処理 Preconditioning |
PC |
JEDEC J-STD-020 JESD22A113 | TC,THBなどの 試験前に実施 |
0 Fails |
- |
● |
| 高温高湿バイアス Temperature Humidity-Bias |
THB |
JEDEC JESD22A101 or A110 |
85℃Ta85%RH /500Hr |
0 Fails |
- |
● |
| 不飽和プレッシャークッカー Autoclave or Unbiased HAST |
AC or UHAST |
JEDEC JESD22A102 or A118 |
AC:121℃/15psig/192Hr UHAST:130℃/85%RH/192Hr |
0 Fails |
- |
● |
| 温度サイクル |
TC |
JEDEC JESD22A104 | -55℃~125℃Ta /300cyc |
0 Fails |
- |
● |
| 飽和蒸気気圧 Pressure Cooker Test |
PCT |
JEDEC JESD22A102 | -40℃~125℃Ta /192cyc |
0 Fails |
- |
● |
| 高温保管試験 High Temperature Strage Life |
HTSL |
JEDEC JESD22A103 | 150℃Ta /500cyc |
0 Fails |
- |
● |
| 高温動作試験 High Temperature Operating Life |
HTOL |
JEDEC JESD22A108 | 125、150℃Ta Vccmax 1000Hr |
0 Fails |
- |
● |
| 静電気放電試験 Electrostatic Discharge Human Body Model / Machine Model |
HBM /MM |
JESD-22-A114E ,A115A |
HBM: 1.5kΩ 100pf MM: 0Ω 200pf |
HBM: ≧2000V MM: ≧200V |
● |
● |
| デバイス帯電試験 Electrostatic Discharge Charged Device Model |
CDM |
JESD22-C101C | ≧500V コーナー: ≧750V |
- |
(●) | |
| ラッチアップ Latch-up |
LU |
JESD78A | Voltage trigger: 1.5Xoperation Voltage Current trigger:200mA |
0 Fails |
● |
● |
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